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介电常数测试仪/损耗角使用方法
高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。
1.测试注意事项 2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)
介电常数测试仪/损耗角技术指标 :
1.Q值测量
a.Q值测量范围:5~999。
b.Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档。
c.标称误差
频率范围:25kHz~10MHz;
固有误差:≤5%±满度值的2%;工作误差:≤7%±满度值的2%;
频率范围:10MHz~50MHz;
固有误差:≤7%±满度值的2%;工作误差:≤10%±满度值的2%。
2.电感测量
a.测量范围:0.1μH~1H。
b.分 档:分七个量程。
0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
3.电容测量
a.测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则);
b.电容量调节范围
主调电容器:40~500pF;
准确 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
微调电容量:-3pF~0~+3pF;
准 确 度:±0.2pF。
4.振荡频率
a.振荡频率范围:25kHz~50MHz;
b.频率分档:
25~74kHz, 74~213kHz, 213-700kHz, 700kHz~1.95MHz,
1.95MHz~5.2MHz, 5.2MHz~17MHz, 17~50MHz。
c.频率误差:2×10±1个字。
5.Q合格指示预置功能,预置范围:5~999。
6.仪器正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
介电常数测试仪/损耗角用途 :
该仪器可以用于科研机关,学校,例如一些科研院所,大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试;
固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。
介电常数测试仪/损耗角特点:
本公司**的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
调谐回路残余电感值低至8nH,**100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
Q值量程自动/手动量程控制。
DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源
测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
介电常数测试仪/损耗角测量范围及误差
本电桥的环境温度为20±5℃,相对湿度为30%-80%条件下,应满足
下列表中的技术指示要求。
在Cn=100pF R4=3183.2(W)(即10K/π)时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF
介质损耗tgd 0~1 ±1.5%tgdx±0.0001
在Cn=100pF R4=318.3(W)(即1K/π)时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF
介质损耗tgd 0~0.1 ±1.5%tgdx±0.0001
如果你需要较**地测量,请接通电源后,预热30分钟;
调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;
被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、**,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;
被测件不要直接搁在面板**部,离**部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;
手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等**作科研实验仪器.
2.技术指标